晶振在U盤中容易發(fā)生的問(wèn)題
一、U盤故障有以下幾點(diǎn)：
1、晶振及其它電路元減燒壞：U盤主控芯片與閃存芯片之間的交流是需要石英晶振來(lái)完成，在一定晶振頻率下正常工作，當(dāng)晶振損壞，U盤無(wú)法正常使用，同時(shí)電路板上其他元件被燒壞，可能造成U盤無(wú)法使用。
2、接口故障：經(jīng)常插拔U盤或撞擊、擠壓、摔下等，容易導(dǎo)致U盤接口與電路板的焊點(diǎn)脫焊，導(dǎo)致U盤接口不良，不能識(shí)別或識(shí)別錯(cuò)誤的故障。
3、供電故障：U盤的供電分為主控芯片供電和閃存芯片供電，若保險(xiǎn)電感損壞或穩(wěn)壓塊損壞，則會(huì)出現(xiàn)供電故障。
4、芯片故障：芯片故障分為主控芯片故障和閃存芯片故障；若主控芯片程序錯(cuò)誤或閃存芯片損壞，則芯片不能正常工作。
二、U盤修復(fù)方法：
1、補(bǔ)焊：補(bǔ)焊是用于焊腳脫落的情況，U盤經(jīng)常會(huì)因?yàn)樽矒舳鴮?dǎo)致接口的焊腳脫落，或者晶振的焊點(diǎn)脫離，處理方法需要將外殼拆開，加焊脫落點(diǎn)。
2、替換晶振：U盤遭到撞擊，晶振很容易損壞，處理的方法是更換相同頻率的晶振就可以了。注：晶振是無(wú)法測(cè)量的，判斷是否好壞的方法，只能是替換好的石英晶振進(jìn)行判斷，可考慮晶鴻興時(shí)頻晶振，穩(wěn)定可靠性高。
3、替換主控芯片：經(jīng)過(guò)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)U盤接口、供電、晶振和電路板上的其他元件都沒(méi)有損壞，那可能就是主控芯片問(wèn)題，閃存芯片問(wèn)題比較少見（因?yàn)楫?dāng)閃存芯片損壞，數(shù)據(jù)將無(wú)法恢復(fù)）。主控芯片損壞的處理方法是更換一個(gè)好的主控芯片，但要求主控芯片的型號(hào)一定要相同的。
4、拆取閃存芯片，用設(shè)備讀取芯片后分析數(shù)據(jù)。
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